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测试非平衡少数载流子数目的方法
来源: 材料物理性能
发布时间:2017-02-18
题目非平衡载流子的寿命ζ就是反映的参数请注意与下面材料物理性能题目有着相似或相关知识点, 目前常用的测量非平衡半导体晶体载流子寿命表的方法一般可分为两大类稳态法间接法; 载流子注入。
测试非平衡少数载流子数目的方法
学习时建议同时掌以下几题,硅半导体的导电过程存在和空穴两种载流子。
半导体材料的电阻率与以及载流子迁移率有关。
是半导体单晶重要电学参数之一它反映了补偿后的杂质浓度与半导体中的载流子浓度有直接关系。
相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。
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