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利用电磁耦合效应可以测定磁性金属基体上的各种膜层厚度
来源: 无损检测技术资格人员考试
发布时间:2021-01-10
题目利用提离效应可以测量导电基体上非金属涂层的厚度请注意与下面无损检测技术资格人员考试题目有着相似或相关知识点, 利用提离效应测定非磁性基体金属上的绝缘涂层厚度时一般使用较低的试验频率 ; 涡流涂层厚度测量仪可用来测量.。
利用电磁耦合效应可以测定磁性金属基体上的各种膜层厚度
学习时建议同时掌以下几题,涡流导电仪能用来测量金属基体表面绝缘膜层厚度吗为什么。
用4MHZ钢质保护膜直探头经甘油耦合后对钢试件进行探测若要能得到最佳透声效果其耦合层厚度为甘油CL=。
提离效应可用来。
相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。
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