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CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40Φ44Φ50台阶孔其目的是
来源: 无损检测技术资格人员考试
发布时间:2017-02-19
题目CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40Φ44Φ50台阶孔其目的是方便用于请注意与下面无损检测技术资格人员考试题目有着相似或相关知识点, CSK-ⅠA试块上φ50φ44φ40三孔的台阶可用来测定斜探头的分辨力 ; CSK-IB试块上Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定的。
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40Φ44Φ50台阶孔其目的是
学习时建议同时掌以下几题,利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离仅能测定直探头盲区的大致范围。
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定 。
对于Φ83x14mm规格的钢管对接环焊缝探伤时采用的对比试块最好是。
相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。
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