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在磁粉探伤时缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关
来源: 无损检测技术资格人员考试
发布时间:2017-02-19
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在磁粉探伤时缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关
学习时建议同时掌以下几题,在磁粉探伤时缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度无关。
下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述是正确的。
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相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。
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